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    • 賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀

      賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀可進行全自動、高通量的表面分析,提供用于推進研發或解決生產問題的數據。 集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜,讓您進行真正的聯用分析。

      更新日期:2024-02-21
      型號:
      廠商性質:生產廠家
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